問題23
LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)故障の説明として、適切なものはどれか。
| ア | 機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象 |
| イ | 寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象 |
| ウ | 静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象 |
| エ | 電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象 |
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解答：ウ
ESD（Electrostatic Discharge：静電気放電）とは、人体などに帯同した静電気に静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象のことである。電子機器の誤動作や損傷などの問題を引き起こす原因となる。
| ア | × | 機械的ストレスによる破壊の説明である。 |
| イ | × | ラッチアップの説明である。 |
| ウ | ○ | ESD（Electrostatic Discharge：静電気放電）の説明である。 |
| エ | × | EOS（Electrical OverStress）の説明である。 |