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平成23年度秋季問題

問題23

LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)故障の説明として、適切なものはどれか。

ア 機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
イ 寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
ウ 静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
エ 電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象

LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)故障の説明として、適切なものはどれか。

ア 機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
イ 寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
ウ 静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
エ 電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象

解答：ウ

＜解説＞

ESD（Electrostatic Discharge：静電気放電）とは、人体などに帯同した静電気に静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象のことである。電子機器の誤動作や損傷などの問題を引き起こす原因となる。

ア × 機械的ストレスによる破壊の説明である。
イ × ラッチアップの説明である。
ウ ○ ESD（Electrostatic Discharge：静電気放電）の説明である。
エ × EOS（Electrical OverStress）の説明である。