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平成23年度秋季問題

問題23

LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)故障の説明として、適切なものはどれか。

機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象

LSIの故障メカニズムの一つであるESD(Electrostatic Discharge)故障の説明として、適切なものはどれか。

機械的な力によって、配線が切断されてしまう現象
寄生サイリスタの導通によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象
電流が過度に流れることによって、配線が切断されてしまう現象

解答:ウ

<解説>

ESD(Electrostatic Discharge:静電気放電)とは、人体などに帯同した静電気に静電気放電によって、半導体素子が破壊されてしまう現象のことである。電子機器の誤動作や損傷などの問題を引き起こす原因となる。

× 機械的ストレスによる破壊の説明である。
× ラッチアップの説明である。
ESD(Electrostatic Discharge:静電気放電)の説明である。
× EOS(Electrical OverStress)の説明である。