必ず受かる情報処理技術者試験

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• 問題選択

問1～問10

• 問 1：基数変換
• 問 2：関係を表す式
• 問 3：あふれが生じる2進数
• 問 4：浮動小数点表示法
• 問 5：平均値の算出
• 問 6：成立する関係式
• 問 7：文字列の組合せ
• 問 8：不合格品の割合
• 問 9：論理式
• 問10：成立する関係式

問11～問20

• 問11：文字列のコード化
• 問12：2分探索木
• 問13：流れ図
• 問14：配列アルゴリズム
• 問15：ハッシュ法
• 問16：DRAM の特徴
• 問17：論理回路
• 問18：命令語に関する記述
• 問19：命令列の実行時間
• 問10：キャッシュメモリのヒット率

問21～問30

• 問21：アクセス時間の最も短い記憶装置
• 問22：USB
• 問23：接続コードを使用しないインタフェース
• 問24：１分間に表示される画像のデータ量（
• 問25：ベクトルコンピュータ
• 問26：プロセッサの制御機構
• 問27：LRU方式
• 問28：仮想記憶方式
• 問29：セマフォを用いる目的
• 問30：主記憶の空き領域

問31～問40

• 問31：主記憶の空き領域
• 問32：NASの特徴
• 問33：アベイラビリティ
• 問34：フォールトトレラントシステムの説明
• 問35：DNS サーバが果たす役割
• 問36：XML の特徴
• 問37：Java Servlet の説明
• 問38：アプリケーションサーバを用いる理由
• 問39：要求分析の支援機能
• 問40：外部設計及び内部設計

問41～問50

• 問41：プロセスモデル
• 問42：カプセル化
• 問43：モジュール強度
• 問44：テスト用のモジュール
• 問45：ソフトウェアの再利用
• 問46：ファンクションポイント法
• 問47：検査文字
• 問48：運用テスト
• 問49：電力を供給する装置
• 問50：正常箇所に影響していないことを確認するテスト

問51～問60

• 問51：HDLC 手順
• 問52：ARP
• 問53：アドレスクラス
• 問54：電子メールの規約
• 問55：ビット誤り
• 問56：ATM 交換方式
• 問57：ルータの機能
• 問58：スキーマの説明
• 問59：特定の列だけを取り出す操作
• 問60：更新不可能なビュー

問61～問70

• 問61：正しく実行できる UPDATE 文
• 問62：データベースの更新記録として保存するファイル
• 問63：データの入力順序
• 問64：公開鍵暗号方式における鍵の取扱い
• 問65：情報交換を行う認証
• 問66：メッセージダイジェストの利用目的
• 問67：Web ビーコン
• 問68：セキュリティ対策
• 問69：UCS-2（Unicode）
• 問70：静止画像データの圧縮方式

問71～問80

• 問71：ステークホルダを重視する目的
• 問72：機器の導入によるコスト見積り
• 問73：機会損失の計算
• 問74：運用操作ミスを防止するための手法
• 問75：パレート図
• 問76：近似を得る手法
• 問77：仕入額，発注費，保管費用の年間総額
• 問78：総運賃の計算
• 問79：IC タグ（RFID）の特徴
• 問80：著作物に関する記述

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